行业案例 思瑞围绕客户的切实需求,帮助客户提升品质和生产力
首页 > 行业案例 > 电子 > 芯片

如何实现芯片自动化检测及筛选

发表时间:2021-08-31 20:08:52 作者:思瑞瑕疵检测 来源:www.serein.com.cn 浏览:

芯片的品种非常多,并且随着科学技术的发展,不断增加。每种芯片产量少则几千件,多则上万件。为保证芯片的尺寸精度,每一篇芯片需要检测设备进行全检,并根据不同的尺寸公差,将产品分成优、良、差三个等级。

 

传统的解决方案采用影像测量机,一个一个进行人工操作测量分级,不仅需要在人力上投入大量的财力,并且无法保证良品率。面对与日俱增的巨大工作量,如何使用一条自动化的测量分拣料线,解决客户自动检测、筛选的同时,保证高精度的测量结果,是客户迫切希望解决的难题。

如何实现芯片自动化检测及筛选(图1)


思瑞测量解决方案:一条自动化的测量分拣料线,解决客户提出的问题。

思瑞测量将机器人抓取、视觉识别、自动测量和数据传输技术与影像测量机控制和测量软件进行了整合。

如何实现芯片自动化检测及筛选(图2)

 

方案布局

如何实现芯片自动化检测及筛选(图3)

 

现场实施

客户将产品摆放到托盘,每个托盘里可以放置100多件产品,然后将料盘码放在料线上,按一下启动按钮,自动料线将自动完成测量和分拣工作,将产品摆放在三种不同的料盘中,并码垛输出。


项目关键技术

1.高精度的视觉识别芯片位置,并引导测量机到达测量位置;

2.影像测量机软硬件与外部设备的数据交互;

3.微小零件的视觉识别与自动拾取;

4.芯片品种多样,更换频繁,需更柔性化的操作软件


凭借高效强大的自动化解决方案,为客户解决检测难点的同时,大幅度提升检测效率、产品精度,该方案获得客户的高度赞扬。

相关产品
下一个: 暂无
上一个: 暂无
返回列表