思瑞专用检测方案,配置CCD影像测头系统和CWS白光传感器,拥有高性能的影像测量功能,性价比出众, 能轻松解决易变形曲面轮廓检测难题。
创新的CCD光学影像寻边方式测量工件边缘,快速准确建立基准,闪测二维尺寸,包括HOME键、指纹键、摄像头等孔位、槽直径、R角位置以及玻璃2D尺寸等要素。重复测量精度高。建立基准重复性提升至2um,内外长宽、孔位重复性提升至2-3um,坐标建立时间缩短至38s。CCD寻边效率比接触式探针寻边,要快3-5倍,提高了检测效率。
CWS非接触式共聚焦白光传感器,采用色阶共聚焦白光探头,可以准确完成空间尺寸数据的量测(轮廓度,厚度、平面度、R角尺寸)。对于曲面材料边沿较大角度的位置,光谱共焦位移传感器可以获得更大可测量区域。其非接触采点方式,测量全程不产生碰触,无需担心任何外力影响下的接触变形。
通过自动旋转测座,灵活的实现3D玻璃的各位置的非接触式扫描。且具有连续扫描功能,无需逼近回退,最高达到1000点/秒,减少了测头回退时间和感应时间,比传统测量方式快3倍左右,远比想象更强大。
并且,CWS系统解决了长久以来工件表面要求反光和透明材质的这一痛点,可轻松应对敏感、柔软、色散、反射、倾斜、弯曲或者低对比度的表面反光材质或透明材质的光学难点测量。
功能强大的方案软件系统
RATIONAL DMIS软件系统,拥有智能过滤功能,消除杂点,保证测量数据的稳定和一致性。多样化的测量报告、spc数据统计、工艺改进提供支持等功能只需要轻松点击鼠标即可实现。分析报告,直观清晰。适用于产品分析,特殊位置展示等。
广泛的应用范围
易变形曲面扫描检测方案精度高,也非常适用于石墨模具测量。石墨模具不能有划痕,对其表面光滑度要求很高,这种非接触式的检测设备正好满足需求。
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