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如何攻克大尺寸液晶面板检测难题

发表时间:2021-08-31 20:08:50 作者:思瑞瑕疵检测 来源:www.serein.com.cn 浏览:

如何判定液晶面板是否具有“无缝衔接”的尺寸精度,高效、配置合理的检测设备能更好的对产品进行高精密尺寸把控。OPTIV复合式影像测量仪凭借复合式多传感器,为客户的检测难题,提供了强有力的解决方案。


影像仪解决方案——OPTIV PERFORMANCE系列影像测量仪,复合测量——探针测量+影像测量,有效保证液晶面板外观尺寸精准度。

 

1. 外壳:

解决外壳尺寸问题,就需要对外壳的内轮廓尺寸,以及定位孔尺寸进行测量,由于金属外壳的加工过程使得产品边缘有倒角,如果单纯用光学测量的话有时候造成较大的误差,目前在富士康、可成、绿点体系都在用接触的方式测量外壳和屏幕的配合尺寸,包括外壳上表面或者侧面的尺寸。直测针,用于垂直测量表面的槽和台阶;带角度的斜孔或者斜槽十字星型测针,用于侧面边槽和台阶;可以用来测量厚度,测量带螺纹的孔或者非常薄的边。

   

2. 2D平面尺寸测量:

1) CG、Pannel——2D尺寸,例如长度、宽度、扬声器孔和位置、摄像头孔尺寸和位置、Home键尺寸和位置、四角轮廓等等; 2) FPC——排线的线路线宽、线距;上面所有的PIN的间距和位置;任何接插连接的socket的中的针脚的位置和宽度等;FPC上很多的圆槽和定位孔的尺寸; 3) BLU和CG粘合的相对位置的确认;

这些尺寸都是2D测量里基本的要求,采用光学测量(同轴光、底光、环光)

海克斯康思瑞测量设备所具备的多重捕捉功能(Multi Capture),一次性测量整个视场内的所有尺寸,直接提高三倍测量速度。

 

3. 曲面测量测量:

采用CWS白光测头测量,Z向精度可以达到0.3um,可以测量屏幕表面的平面度尤其可以测量透明和高反射率材料的表面形貌。

三种传感器搭配在一台复合式影像测量设备,一次装夹,完成全尺寸测量。强大的PC-DMIS VISION 测量软件,基于3D或者2D数模的编程和对比。

如何攻克大尺寸液晶面板检测难题(图1)

CAD module 选项:具有多种格式的CAD数模的导入、编程和测量,并能够完成几何关系的计算、构造和形位公差的评价与分析,如:IGES,DWG、DXF、STEP,VDAFS,STL。

软件具有测量数据多种通用的输出格式,如:IGES、STEP,VDAFS, XAML, DMIS,DES,Excel,Generic,XYZ,可以用于逆向设计。

 

轮廓尺寸测量:具有2D轮廓扫描功能,可以自动巡边进行轮廓扫描,对CG和TP等的轮廓和原始DXF、DWG文件进行对比。

基于以上强大的测量功能和数据处理功能,众多玻璃厂家均采用思瑞测量复合式影像测量设备测量曲面屏,为液晶面板检测严格把关。

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