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纳米晶尺寸&瑕疵检测方案,无线充电背后大有文章!

发表时间:2021-07-14 08:07:11 作者:思瑞瑕疵检测 来源:www.serein.com.cn 浏览:

从手机诞生的那一刻起,一根根的USB数据线也“形影不离”地走过了十多年的旅程;然而,数据线在很多时候却成为了手机使用者的羁绊,要么长度不够,要么插孔冲突。后来,手机无线充电功能横空出世,免去了“插线”的烦恼,为手机充电方式提供了一个更加有效的解决方案。思瑞测量技术无线充电纳米晶尺寸和瑕疵检测设备.

 纳米晶尺寸&瑕疵检测方案,无线充电背后大有文章!(图1)

无线充电原理主要采用的是“纳米晶+线圈”方案。纳米晶材料具有优异的磁学和物理力学性能,线圈的接收功率大、温升小、成本低。无线充电市场的兴起,对于纳米晶拉动起到一定作用。

 

纳米晶尺寸&瑕疵检测方案,无线充电背后大有文章!(图2)

无线充电技术强势带动纳米晶的发展,也对纳米晶的质量提出了更高的要求,纳米晶成品的尺寸及表面质量对于后期的装配以及自身的功能有着巨大的影响,这成了供应商主要关注的质量特征。

 

纳米晶尺寸&瑕疵检测方案,无线充电背后大有文章!(图3)

工作流程

无线充电检测设备检测速度快,3s即可完成一个产品的全部测量过程。采用优良部件进行检测:高像素工业相机、高精度镜头和探针、高速及高重复定位精度的转移及下料四轴机械手。灵活使用了滚筒收卷系统方便快捷地进行零件上料及回收空薄膜。先进行相机视觉尺寸检测,后拍照定位至探针测量站进行瑕疵检测,测量数据准确可靠。另外,重复精度高。进行LCR检测时,通过压力传感器进行压力控制检测,可靠性高。

 

随着用户对手机的续航及充电体验不断提出新的要求,无线充电能充分利用碎片化时间为手机供电,在一定程度上解决用户手机续航不足的痛点。无线充电技术已成各大手机厂商竞争焦点,思瑞测量技术无线充电纳米晶尺寸和瑕疵检测设备,全自动高效的进行无线充电纳米晶尺寸和瑕疵检测,对其从双重方向严格把关,为客户创造了巨大的价值,得到了客户的广泛认可!

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