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创新方案|如何完整撷取易变形材料的弧线

发表时间:2021-07-21 16:07:44 作者:思瑞瑕疵检测 来源:www.serein.com.cn 浏览:

针对易变性曲面轮廓度检测难题,思瑞测量开创性地将高像素CCD光学影像和CWS非接触式共聚焦白光传感器整合:由CCD镜头负责定位基准和测量长、宽、孔位等平面尺寸,CWS负责测量3D轮廓度、厚度、平面度等空间尺寸。各取所长,火力全开。


CCD影像测头系统快速定位,确保测量精度

创新的CCD光学影像寻边方式测量工件边缘,快速准确建立基准,闪测二维尺寸,包括HOME键、指纹键、摄像头等孔位、槽直径、R角位置以及玻璃2D尺寸等要素。

重复测量精度高。建立基准重复性提升至2um,内外长宽、孔位重复性提升至2-3um,坐标建立时间缩短至38s。CCD寻边效率比接触式探针寻边,要快3-5倍,提高了检测效率。


CWS白光测头系统检测是提高产线良率、提高竞争实力的关键

CWS非接触式共聚焦白光传感器,采用色阶共聚焦白光探头,可以准确完成空间尺寸数据的量测(轮廓度,厚度、平面度、R角尺寸)。

对于曲面材料边沿较大角度的位置,光谱共焦位移传感器可以获得更大可测量区域。其非接触采点方式,测量全程不产生碰触,无需担心任何外力影响下的接触变形。  

通过自动旋转测座,灵活的实现3D玻璃的各位置的非接触式扫描。且具有连续扫描功能,无需逼近回退,最高达到1000点/秒,减少了测头回退时间和感应时间,比传统测量方式快3倍左右,远比想象更强大。

并且,CWS系统解决了长久以来工件表面要求反光和透明材质的这一痛点,可轻松应对敏感、柔软、色散、反射、倾斜、弯曲或者低对比度的表面反光材质或透明材质的光学难点测量。


创新方案|如何完整撷取易变形材料的弧线(图1)


功能强大的方案软件系统

RATIONAL DMIS软件系统,拥有智能过滤功能,消除杂点,保证测量数据的稳定和一致性。多样化的测量报告、spc数据统计、工艺改进提供支持等功能只需要轻松点击鼠标即可实现。分析报告,直观清晰。适用于产品分析,特殊位置展示等。

创新方案|如何完整撷取易变形材料的弧线(图2)


广泛的应用范围

易变形曲面扫描检测方案精度高,也非常适用于石墨模具测量。石墨模具不能有划痕,对其表面光滑度要求很高,这种非接触式的检测设备正好满足需求。

除此之外,它还可以检测其它易变形产品:3D玻璃、2.5D玻璃、不规则弯曲玻璃等。塑胶、橡胶立体产品(接触变形大、精度要求较高)。

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