图片展示

头戴式耳机外观瑕疵检测方案,“酷”就是生产力

发表时间: 2020-10-20 00:00:00

作者: www.serein.com.cn

来源: [结构部件]

浏览: 183


 

耳机是一种常见的电子产品,深受年轻人的喜爱。大部分人在开始为自己选择头戴式耳机时,参考原因很可能会跟“外形好看”和“戴上去酷”有关,隔绝外界声音、沉浸在自己的音乐世界里,一眨眼就能变成自己想象里的“酷盖”,

 

头戴式耳机使用时接触面积大、压强小、对耳蜗细胞刺激小。因此长时间佩戴应优先选择头戴式耳机。在耳机生产过程中,不可避免的存在一定的工艺瑕疵问题,这让困扰着众多生产厂家。针对头戴式耳机的美观度及目前产业现状,思瑞测量有限公司针对头戴式耳机的多种瑕疵类型检测推出了头戴式耳机外观瑕疵检测设备。严格把控生产质量、提高合格率。

 

 

设备概念图

                 

单位:mm


 

通过多个高精度部件:高像素相机、远心镜头,同轴光与环形光搭配实现准确测量。多个点位进行管口外侧短射与熔接痕、管口毛边及浇口残留检测。设备运行速度快,CT仅为26秒。

 

设备首先对产品进行多方位检测,接下来进行外侧测试及侧面测试(两个X轴运动方向相

逆,同步测量2个侧面),最后进行顶部测试(2个点位同时进行)。

工作流程如下:

 

思瑞测量技术推出的头戴式耳机外观瑕疵检测设备,为了、、实现全自动高效检测头戴式耳机外观瑕疵,以可靠、高效的优异表现严格把控产品质量。



思瑞测量技术(深圳)有限公司-Part of Hexagon ( 粤ICP备05004781号
工厂地址:深圳市宝安区福永街道和平社区和泰工业区和丰工业园第6栋
电话:+86 755 2971 8601 传真:+86 755 2971 0135

400-8800-268

客服热线